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La génération du bobard-SEMs incluent l'Analytics à trois dimensions

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ZEISS présente une nouvelle génération des microscopes électroniques de balayage focalisés de faisceau d'ions (bobard-SEMs) pour des applications à extrémité élevé dans la recherche et l'industrie.

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La traverse 550 de ZEISS comporte une augmentation significative dans la résolution pour la représentation et la caractérisation des matériaux et un gain de vitesse dans la préparation témoin. Nanostructures tel que des composés, des métaux, des biomatériaux ou des semi-conducteurs peut être étudié avec des méthodes analytiques et de représentation en parallèle. La traverse 550 permet la modification et la surveillance simultanées des échantillons, ayant pour résultat la préparation rapide témoin et la sortie élevée par exemple pour la préparation de croix-sectionnement, de lamelle de TEM ou la nano-structuration.

Il également 550 fournit l'excellente qualité d'image dans la 2-D et à trois dimensions. Le nouveau mode tandem de decel permet la résolution augmentée ainsi qu'une maximisation de contraste d'image à de basses énergies de débarquement. L'optique électronique pilote des Gémeaux II fournit la résolution optima à la basse tension et à la sonde élevée actuelles simultanément. La colonne de BOBARD combine le courant de BOBARD disponible le plus élevé de Na 100 avec le nouveau mode de FastMill, tenant compte du traitement matériel et de la représentation fortement précis et plus efficaces en parallèle. En plus, le nouveau processus pour la récupération automatisée d'émission augmente la facilité d'emploi et optimise la colonne de BOBARD pour des résultats reproductibles pendant des expériences à long terme.