Ajouter à mes favoris
Voir la traduction automatique
Ceci est une traduction automatique. Pour voir le texte original en anglais
cliquez ici
#Tendances produits
{{{sourceTextContent.title}}}
Introduction d'améliorations majeures dans l'offre de flux de travail pour les installations de base en science des matériaux
{{{sourceTextContent.subTitle}}}
ZEISS introduit de nouvelles capacités pour les microscopes à faisceau d'ions ZEISS, qui couvrent les progrès de l'analyse, de la tomographie, de la préparation des échantillons et de l'intégrité des données. Cela ouvre de nouvelles possibilités dans les matériaux d'ingénierie, les matériaux énergétiques, les matériaux mous et les géosciences, couvrant les mégatendances de la fabrication d'additifs, la recherche sur les batteries et le photovoltaïque, les matériaux de construction et les nanomatériaux
{{{sourceTextContent.description}}}
Analytique
L'introduction des solutions SIMS pour l'analyse élémentaire à travers la famille ZEISS Crossbeam ajoute une capacité analytique significative aux microscopes à faisceau ionique ZEISS. Elle est complétée par la nouvelle détection par spectrométrie de masse d'ions secondaires en temps de vol (ToF-SIMS) introduite pour le dernier membre de la famille ZEISS Crossbeam, le ZEISS Crossbeam 350, ainsi que sur le ZEISS Crossbeam 550
Tomographie
Dans le cadre de l'introduction du nouveau microscope électronique à balayage à faisceau d'ions focalisé (FIB-SEM), le ZEISS Crossbeam 350, ZEISS introduit des flux de travail améliorés pour la tomographie 3D afin de garantir une génération de volume de données 3D de premier ordre. La mesure quantifiée et calibrée de l'épaisseur des tranches en Z permet une reconstruction presque parfaite des tranches de tomogramme en un volume reconstitué. Une mise à jour du matériel et des logiciels de l'Atlas 5 du ZEISS améliore l'analyse 3D (diffraction statique de rétrodiffusion d'électrons (EBSD)), les flux de travail corrélatifs et la définition de l'épaisseur des tranches. Cette technologie dite "True Z" garantit une tomographie FIB-SEM de haute qualité
Préparation des échantillons
La nouvelle station de chargement et le nouveau porte-échantillons pour la préparation des lamelles en microscopie électronique à transmission (TEM) facilitent l'utilisation du flux de travail de préparation des lamelles TEM et assurent une transition en douceur de l'échantillon vers le TEM pour analyse ultérieure
Intégrité des données
L'acquisition rapide et de haute qualité des données est complétée par la sortie de ZEISS ZEN Intellesis, un logiciel de segmentation basé sur l'apprentissage machine. Les ensembles de données 3D ZEISS Crossbeam sont entièrement compatibles avec cette suite de logiciels de traitement et de segmentation d'images. L'intégrité des données est ainsi préservée à mesure que la vitesse et la qualité de l'acquisition des données s'améliorent. La classification basée sur la texture fournie par ce logiciel permet d'extraire des informations auparavant cachées à partir d'échantillons allant des composites de fibres aux roches réservoirs.