Présentation des MEB SU3800SE et SU3900SE d'Hitachi : Simplifier la microscopie grâce à un fonctionnement facile et automatique

Découvrez comment les nouveaux MEB SU3800SE et SU3900SE d'Hitachi simplifient la microscopie grâce à l'automatisation, à la manipulation d'échantillons plus grands et à l'imagerie haute résolution pour la recherche et les applications industrielles.

Hitachi High-Tech a récemment lancé les microscopes électroniques à balayage (MEB) SU3800SE et SU3900SE. Ils s'appuient sur les instruments SU3800 et SU3900, qui ont fait leurs preuves, et offrent désormais un instrument optimisé en fonction des besoins de l'application, avec deux tailles de chambre à échantillons et le choix entre un émetteur de champ thermique au tungstène ou Schottky.

Les nouveaux instruments avancés d'optique à émission de champ sont destinés à améliorer considérablement la recherche scientifique et les applications industrielles. En mettant l'accent sur la productivité, les SU3800SE et SU3900SE automatisent l'alignement des optiques critiques et les tâches opérationnelles répétitives, afin que vous puissiez obtenir des résultats reproductibles en peu de temps et avec peu d'efforts manuels.

Alors que la demande d'imagerie à haute résolution continue de croître dans divers secteurs, notamment les nanotechnologies et le contrôle qualité industriel, ces nouveaux modèles permettront aux chercheurs et aux fabricants de mieux comprendre et d'améliorer l'analyse des matériaux.

Avec ces avancées, Hitachi High-Tech réaffirme son engagement à soutenir les découvertes révolutionnaires et à améliorer la qualité des produits dans de nombreux domaines.

La nécessité d'une microscopie avancée

La microscopie électronique à balayage est devenue un outil indispensable dans la recherche sur les matériaux et le contrôle de la production. Cette technique permet d'obtenir une topographie de surface à haute résolution et une imagerie de la composition d'échantillons en vrac ou de particules/filtres.

Mais la demande croissante de techniques de microscopie avancées a créé un besoin d'instruments plus sophistiqués. Ces instruments doivent être capables de traiter des échantillons plus grands et plus lourds tout en conservant une qualité d'image exceptionnelle et une grande facilité d'utilisation.

De nombreux MEB existants sont limités dans leur capacité à traiter des échantillons lourds et de grande taille. Ils nécessitent souvent une préparation supplémentaire de l'échantillon, telle que la coupe, ce qui n'est ni souhaitable ni faisable. En outre, l'utilisation croissante des MEB pour contrôler les microstructures afin d'améliorer la fonctionnalité et les performances des matériaux, ainsi que pour analyser les matières étrangères, les défauts et les défaillances afin d'améliorer la qualité des produits, a mis en évidence la nécessité de disposer d'outils plus polyvalents.

L'intégration de la spectroscopie X à dispersion d'énergie (EDS) et de la diffraction par rétrodiffusion d'électrons (EBSD) aide les utilisateurs à réaliser des analyses complètes des matériaux, de la cartographie de la composition élémentaire avec l'EDS aux études d'orientation cristallographique avec l'EBSD. La demande croissante de ces capacités souligne la nécessité de disposer de MEB capables de traiter efficacement des échantillons industriels complexes et de grande taille, tels que des composants de véhicules, tout en fournissant une imagerie à haute résolution et une acquisition de données fiable.

Principaux avantages des Hitachi SU3800SE et SU3900SE

Les MEB SU3800SE et SU3900SE d'Hitachi High-Tech relèvent les défis susmentionnés. Ils sont dotés d'un certain nombre de fonctions et d'avantages qui vous facilitent la vie.

1. Capacité de manipulation d'échantillons volumineux, lourds ou multiples

L'une des caractéristiques les plus remarquables de la SU3800SE, et surtout de la SU3900SE, est leur capacité à manipuler des échantillons en vrac plus volumineux sur leurs platines d'échantillonnage eucentriques à 5 axes. Le SU3900SE peut manipuler des échantillons jusqu'à 300 mm de diamètre, 130 mm de hauteur et 5 kg de poids, les 5 axes de la platine étant disponibles. Cette capacité réduit ou élimine la nécessité de découper des éléments d'essai plus volumineux et améliore la productivité en permettant le chargement simultané de plusieurs échantillons en vue d'une analyse séquentielle.

2. Navigation sans effort et en toute sécurité dans les échantillons

Ces nouveaux MEB sont également dotés d'un système de navigation à caméra optique avancé qui couvre toute la gamme de mouvements X,Y de la platine, ce qui vous permet de localiser et d'accéder facilement à des positions d'échantillons spécifiques d'un simple clic de souris sur la position cible. La caméra optique suit même la rotation de la platine, ce qui fait de la navigation dans les échantillons une expérience transparente, idéale pour les utilisateurs qui doivent effectuer des analyses complexes et détaillées.

Un autre point fort est le modèle de collision entre l'échantillon et la platine qui s'applique automatiquement et qui offre la certitude absolue que tout mouvement de la platine n'entraînera aucun risque. Cela vous permet de tirer parti de toutes les capacités du MEB, par exemple la distance de travail la plus courte pour une résolution maximale peut être réglée sans hésitation.

3. Les meilleures performances du système sont régulièrement atteintes

Les SU3800SE / SU3900SE sont dotés de fonctions automatiques rapides, modulaires, fiables et précises pour l'alignement de l'optique électronique, la mise au point, l'anti-stigmatisation et les réglages de luminosité/contraste. En plus de la bibliothèque de recettes de conditions d'observation définissables par l'utilisateur, ces fonctions permettent à des utilisateurs ayant des compétences différentes de produire systématiquement des images de haute qualité, grâce à l'optique électronique et à la technologie de détection de haute performance.

4. EM Flow Creator

La répétition des tâches d'inspection de routine ne doit pas lier l'opérateur au MEB. Les SU3800SE / SU3900SE sont dotés de la fonction optionnelle EM Flow Creator, qui permet de mettre en place des flux de travail complexes sans avoir besoin de compétences en programmation ou en codage. EM Flow Creator aligne des blocs fonctionnels définis graphiquement, tels que le grossissement, la position de la platine, les fonctions de réglage de l'image comme la mise au point et le contraste, et les associe à des fonctions telles que les événements de prise de décision, les boucles répétitives, la correspondance des modèles, etc. Une fois définies, ces recettes peuvent être exécutées automatiquement, ce qui réduit votre charge de travail et garantit des résultats cohérents et de haute qualité à chaque fois.

Conclusion : Ces avantages vous permettent de vous concentrer sur vos recherches, tandis que le microscope se charge des tâches complexes. Ces MEB automatisent les processus et garantissent des résultats précis et de haute qualité avec un minimum d'intervention manuelle de votre part.

Applications et impact sur différents domaines

L'introduction des SU3800SE et SU3900SE d'Hitachi marque un bond en avant dans la technologie de la microscopie, avec des applications très variées dans de nombreux domaines.

Nanotechnologie

En nanotechnologie, où la précision à l'échelle nanométrique est primordiale, ces nouveaux MEB permettent aux chercheurs d'observer et d'analyser les nanostructures avec un niveau de détail remarquable. Les capacités d'imagerie à haute résolution permettent de caractériser les nanomatériaux, ce qui permet aux scientifiques d'explorer leurs propriétés uniques et leurs applications potentielles dans les domaines de l'électronique, de la médecine et de la science des matériaux.

Contrôle de la qualité industrielle

Pour les applications industrielles, en particulier le contrôle de la qualité, ces MEB avancés permettent aux fabricants d'effectuer des inspections approfondies des matériaux et des composants. En identifiant les défauts et en analysant les microstructures, les entreprises peuvent améliorer la qualité et les performances de leurs produits, ce qui permet de réduire les déchets et d'accroître l'efficacité.

La conception des SU3800SE et SU3900SE permet d'accueillir des échantillons plus grands et offre une imagerie de haute qualité des échantillons conducteurs et (en appliquant le mode de pression variable de la chambre fourni en standard) des échantillons non conducteurs. Vous obtenez ainsi une analyse complète des matériaux industriels, tels que les métaux, les composites et les pièces automobiles, sans qu'il soit nécessaire de procéder à un traitement supplémentaire.

Science des matériaux

Dans le domaine de la science des matériaux, les nouveaux modèles soutiennent la recherche essentielle à la compréhension des propriétés et des comportements de divers matériaux. Leurs capacités d'imagerie améliorées permettent d'examiner la topographie et la composition de la surface, fournissant ainsi des informations qui stimulent l'innovation dans le développement des matériaux. Ceci est particulièrement important dans le développement de matériaux avancés pour l'aérospatiale, l'automobile et l'électronique, où la performance et la fiabilité sont essentielles.

Conclusion

Les microscopes électroniques à balayage SU3800SE et SU3900SE d'Hitachi représentent une avancée significative dans le domaine de la microscopie.

Grâce à leur capacité à traiter des échantillons plus grands, à leurs fonctions d'automatisation avancées et à leur conception conviviale, ces MEB sont appelés à devenir des outils essentiels pour les utilisateurs industriels et universitaires. Ils améliorent l'efficacité et la précision de la microscopie et protègent les laboratoires de l'avenir en offrant la flexibilité nécessaire pour s'adapter à l'évolution des exigences de la recherche et de la production.

Si vous souhaitez en savoir plus sur les avantages de ces nouveaux microscopes pour votre travail, téléchargez la brochure ou demandez une démonstration dès aujourd'hui. Découvrez comment les SU3800SE et SU3900SE peuvent vous aider à atteindre de nouveaux niveaux de précision et d'efficacité dans votre recherche scientifique.